Валериан Самсонович Эдельман
д.ф.-м.н., в.н.с.

адрес: ИФП РАН, 119334, Москва, ул. Косыгина 2
факс +7(495)6512125
тел. +7(499)
e-mail: edelman@kapitza.ras.ru

Текущие исследования: низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия, разработка микрокриостата растворения

Последние работы

• The use of RuO2 resistors as broadband low-temperature radiation sensors
  IET 59(4), 621 (2016)
  co-author S.A. Lemzyakov
• Исследование андреевской проводимости структур сверхпроводник-изолятор-нормальный металл
  ЖЭТФ 151, 752 (2017)
  соавторы А.В. Селиверстов, М.А. Тарасов
• Electrical and optical properties of a bolometer with a suspended absorber and tunneling-current thermometers
  Applied Physics Letters 110(24), 242601 (2017)
  co-authors: M. Tarasov, S. Mahashabde, M. Fominsky, S. Lemzyakov, A. Chekushkin, R. Yusupov, D. Winkler, A. Yurgens