Список трудов A.M. Трояновского

1. Локализация электронов над поверхностью жидкого водорода
   Письма в ЖЭТФ, 29(1), 65 (1979)
   соавторы А.П. Володин, М.С. Хайкин
   
   
2. Локализация электронов над поверхностями кристаллических водорода и неона
   Письма в ЖЭТФ, 29, 421 (1979)
   соавторы А.П. Володин, М.С. Хайкин
   
   
3. Levels of charges at surfaces of dielectrics
   Surface Sci., 98, 66 (1980)
   соавторы M.S. Khaikin, A.P. Volodin
   
   
4. Подвижность электронов в двумерном слое над поверхностью твёрдого водорода
   ЖЭТФ, 81, 398 (1981)
   соавтор М.С. Хайкин
   
   
5. Температура Дебая органического сверхпроводника
   Краткие сообщения по физике 3, 9 (1986)
   соавтор В.Б. Гинодман
   
   
6. Регулятор температуры с идентификатором объекта
   ПТЭ 2, 225 (1983)
   
   
7. Сканирующий туннельный микроскоп с модуляцией туннельного промежутка и в жидкой среде
   Письма в ЖТФ 11, 1236 (1985)
   соавтор М.С. Хайкин
   
   
8. Сканирующая туннельная микроскопия границы раздела в МДП-структуре
   Письма в ЖЭТФ 44, 193 (1986)
   соавторы М.С. Хайкин, В.С. Эдельман, В.М. Пудалов, С.Г. Семенчинский
   
   
9. Сканирующие туннельные микроскопы
   ПТЭ 4, 231 (1987)
   соавторы М.С. Хайкин, А.П. Володин, В.С. Эдельман
   
   
10. Scanning tunneling microscopy of a multilayer semiconductor structure
    Sov. Tech. Phys. Lett. 13, 568 (1987)
    соавторы V.S. Edelman, M.S. Khaikin
    
    
11. Цепь обратной связи и управление сканирующим туннельным микроскопом
    ПТЭ 1, 165 (1989)
    
    
12. Исследование пленочных структур - окись NbPb при помощи сканирующего туннельного микроскопа
    Письма в ЖЭТФ 44, 285 (1986)
    соавтор Е.М. Голямина

• Сканирующая туннельная микроскопия поверхности твёрдых тел
  Кандидатска диссертация, научный руководитель В.С. Эдельман
  ИФТТ (1988)

13. Scanning tunneling microscopy investigation of organic thin film topography
    Thin Solid Films 188, 393 (1990)
    соавторы M. Hietschold et al.
    
    
14. Исследование субмикрорельефа поверхностей трения методом сканирующей туннельной микроскопии
    Трение и Износ 12, 596 (1991)
    соавторы С.А. Чижик, А.И. Свириденок
    
    
15. STM combined with SEM: a tool for nanometry
    J. Vac. Sci. Techn. 9, 618 (1991)
    соавторы V.S. Edelman, M.S. Khaikin, A.P. Volodin
    
    
16. Dependency of superconducting films critical parameters on their microstructure
    Physica C185, 2031 (1991)
    соавторы E. Golyamina, V. Dedu
    
    
17. STM investigation of a Multilayer Semiconductor Structure
    Phys. Stat. sol. a131, 11 (1992)
    соавтор V.S. Edelman
    
    
18. СТМ изображение Pb с атомным разрешением
    Письма в ЖЭТФ 57, 429 (1993)
    соавтор В.С. Эдельман
    
    
19. Образование атомно гладких террас при сколе Bi и динамика их границ
    Письма в ЖЭТФ 60, 104 (1994)
    соавтор В.С. Эдельман
    
    
20. Амплитуда атомной гофрировки, измеренная с помощью СТМ
    Письма в ЖЭТФ 60, 285 (1994)
    соавтор В.С. Эдельман
    
    
21. STM revealing of twin microlayers with quantized width on cleaved Bi surface
    Euro. Phys. Lett. 34, 115 (1996)
    соавторы V.S. Edelman, D.Yu. Sharvin, I.N. Khlustikov
    
    
22. Трехфазный пьезоинерционный двигатель для низкотемпературного сканирующего туннельного микроскопа
    ПТЭ 5, 148 (1997)
    соавтор А.П. Володин
    
    
23. Исследование структуры поверхности скола висмута методом СТМ
    Поверхность 2, 12 (1998)
    соавтор В.С. Эдельман
    
    
24. Сканирующая туннельная микроскопия поверхности скола висмута
    Кристаллография 44 (2), 336 (1999)
    соавтор В.С. Эдельман
    
    
25. Неоднородные электронные состояния у поверхности скола висмута
    ЖЭТФ 115, 2214 (1999)
    соавтор В.С. Эдельман
    
    
26. Collective and plastic vortex motion in superconductors at high flux densities
    Nature 399, 665 (1999)
    соавторы J. Aarts, P.H. Kes
    
    
27. Collective and plastic vortex motion probed by STM
    Physica B280, 225 (2000)
    соавторы J. Aarts, P.H. Kes
    
    
28. STM imaging of vortex configurations in films of a-Mo₃Ge through a Au layer
    Physica C369, 335 (2002)
    соавторы J.C. van Baarle, P.H. Kes, J. Aarts
    
    
29. STM imaging of flux line arrangements in the peak-effect regime
    Phys. Rev. Lett., 89, 147006 (2002)
    соавторы M. van Hecke, N. Saha, J. Aarts, P. Kes.
    
    
30. Imaging of vortex configurations in thin films by scanning-tunneling microscopy
    Appl. Phys. Lett 82, 1081 (2003)
    соавторы G.J. van Baarle, T. Nishizaki, P.H. Kes and J. Aarts
    
    
31. STM imaging of vortex structures in NbN thin films
    PHYSICA C388, 777 (2003)
    соавторы T. Nishizaki, G.J. van Baarle, P.H. Kes, J. Aarts

• STM imaging of vortex structures in thin films
  Molecular Nanowires and Other Quantum Objects, 269-274, Kluwer Academic Publisher, Netherlands, (2004)
  соавторы G. Van Baarle, T. Nishizaki, J. Aarts, P. Kes

32. STM/STS study of superconducting diamond
    Science and Technology of Advanced Materials 7, S27-30, (2006)
    соавторы T. Nishizaki, E. Ekimov
    
    
33. Scanning Tunneling Microscopy Study of the Anomalous Metallic Phases in (BEDT-TTF)₂MZn(SCN)₄ (M=Rb,Cs)
    JLTP 142, 159, (2006)
    соавторы N. Yoneyama, N. Kobayashi
    
    
34. Two regimes in the magnetic field response of superconducting MgB₂
    Europhys. Journ. B57, 21 (2007)
    соавторы A. Kohen, F. Giubileo, Th. Proslier, F. Bobba, A.M. Cucolo, W. Sacks, Y. Noat, D. Roditchev
    
    
35. Компактный 3D-нанопозиционер сканирующего туннельного микроскопа, работающий при температурах 4,2-300 К
    ПТЭ 6 110 (2012)
    соавтор Д. Родичев
    
    
36. Локальная диамагнитная восприимчивость квазидвумерного графита
    ЖЭТФ 144, 391 (2013)
    соавторы Е.Г. Николаев, А.С. Котосонов, Е.А. Шалашугина, В.И. Цебро
    
    
37. Цифровая обратная связь и программа управления сканирующим туннельным микроскопом
    ПТЭ 3, 46 (2014)
    соавтор Л.В. Толмачев